GB/T 14028-2018《半导体集成电路模拟开关测试方法》

Semiconductor integrated circuits—Measuring method of analogue switch

国家标准《半导体集成电路模拟开关测试方法》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所、圣邦微电子股份有限公司、西北工业大学。

主要起草人张冰、李雷、陈志培、闫辉、朱华、黄德东。

基础信息

标准号：GB/T 14028-2018发布日期：2018-03-15实施日期：2018-08-01全部代替标准：GB/T 14028-1992标准类别：方法中国标准分类号：L56国际标准分类号：31.200 归口单位：全国集成电路标准化技术委员会执行单位：全国集成电路标准化技术委员会主管部门：工业和信息化部（电子）

起草单位

中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所西北工业大学圣邦微电子股份有限公司

起草人

张冰李雷朱华黄德东陈志培闫辉

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