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156-0036-6678
Electromechanical components for electronic equipment—Basic testing procedures and measuring methods—Part 25-3: Test 25c: Rise time degradation
国家标准《电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-3部分:试验25c:上升时间衰减》由TC166(全国电子设备用机电元件标准化技术委员会)归口,主管部门为工业和信息化部(电子)。
主要起草单位四川华丰企业集团有限公司、中国电子技术标准化研究院。
主要起草人庞斌 、朱茗 、肖淼 、刘俊 、汪其龙 。
标准号:GB/T 5095.2503-2021发布日期:2021-03-09实施日期:2021-10-01标准类别:方法中国标准分类号:L23国际标准分类号:31.220.10 归口单位:全国电子设备用机电元件标准化技术委员会执行单位:全国电子设备用机电元件标准化技术委员会主管部门:工业和信息化部(电子)
本标准等同采用IEC国际标准:IEC 60512-25-3:2001。采标中文名称:电子设备用连接器 试验和测量 第25-3部分:试验25c:上升时间衰减。
四川华丰企业集团有限公司中国电子技术标准化研究院
庞斌朱茗汪其龙肖淼刘俊
20061447-T-339 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第11-1部分:气候试验试验11a:气候序列20061455-T-339 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第11-8部分:气候试验试验11h:沙尘GB/T 5095.2502-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-2部分:试验25b:衰减(插入损耗)GB/T 5095.5-1997 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第5部分:撞击试验(自由元件)、静负荷试验(固定元件)、寿命试验和过负荷试验GB/T 5095.6-1997 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第6部分:气候试验和锡焊试验GB/T 5095.4-1997 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第4部分:动态应力试验GB/T 5095.9-1997 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第9部分:杂项试验GB/T 5095.11-1997 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第11部分:气候试验GB/T 5095.7-1997 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第7部分:机械操作试验和密封性试验GB/T 5095.1-1997 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第1部分:总则
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