GB/T 1553-2009《硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法》

Test methods for minority carrier lifetime in bulk germanium and silicon by measurement of photoconduetivity decay

国家标准《硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，TC203SC2（全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会）执行，主管部门为国家标准委。

主要起草单位峨嵋半导体材料厂。

主要起草人江莉、杨旭。

基础信息

标准号：GB/T 1553-2009发布日期：2009-10-30实施日期：2010-06-01废止日期：2024-03-01全部代替标准：GB/T 1553-1997标准类别：方法中国标准分类号：H80国际标准分类号：29.045 归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会执行单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会主管部门：国家标准委

起草单位

峨嵋半导体材料厂

起草人

江莉杨旭

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