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GB/T 20307-2006《纳米级长度的扫描电镜测量方法通则》

General rules for nanometer-scale length measurement by SEM

国家标准《纳米级长度的扫描电镜测量方法通则》由TC38(全国微束分析标准化技术委员会)归口,TC38SC3(全国微束分析标准化技术委员会新材料微束分析分会)执行,主管部门为国家标准委。

主要起草单位中国科学院地质与地球物理研究所、同济大学、中国科学院化学所、中国地质科学院矿产资源研究所、上海理工大学。

主要起草人张训彪 、曾荣树 、廖宗廷 、卢德生等 。

基础信息

标准号:GB/T 20307-2006发布日期:2006-07-19实施日期:2007-02-01标准类别:方法中国标准分类号:N33国际标准分类号:17.040;37.020 归口单位:全国微束分析标准化技术委员会执行单位:全国微束分析标准化技术委员会新材料微束分析分会主管部门:国家标准委

起草单位

中国科学院地质与地球物理研究所中国科学院化学所上海理工大学同济大学中国地质科学院矿产资源研究所

起草人

张训彪曾荣树廖宗廷卢德生

相近标准(计划)

20250515-T-469 微米级长度的扫描电镜测量方法通则GB/T 16594-2008 微米级长度的扫描电镜测量方法通则20232638-T-469 微束分析 金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法GB/T 17722-1999 金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法JB/T 7503-1994 金属覆盖层横截面厚度扫描电镜测量方法GB/T 45325-2025 贵金属键合丝热影响区长度测定 扫描电镜法GB/Z 43998-2024 纳米技术 混合粉尘制造环境空气中纳米级炭黑和无定形二氧化硅浓度的测量方法FZ/T 20028-2015 分梳山羊绒 纤维长度和长度分布的测定 光电法EJ/T 903.5-1994 闪烁体性能测量方法 闪烁有效衰减长度GB/T 34893-2017 微机电系统(MEMS)技术 基于光学干涉的MEMS微结构面内长度测量方法

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微析院所经过严格的审核程序,获得了CMA资质认证成为正规的检测机构,不出具CMA检测报告的机构请斟酌。

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数据严谨精准

提供精准的数据支持,建立了完善的数据管理系统,对每个检测项目数据进行详细记录与归档,以便随时查阅追溯。

立场

独立公正立场

严格按照法律法规和行业标准行事,不受任何外部干扰,真实反映实际情况,出具的检测报告具有权威性和公信力。

服务

服务领域广泛

服务领域广泛,涉及众多行业。食品、环境、医药、化工,还是建筑、电子、机械等领域,都能提供专业检测服务。

CMA检测资质

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严格按照法律法规和行业标准行事,不受任何外部干扰,真实反映实际情况,出具的检测报告具有权威性和公信力。

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