GB/T 4326-2006《非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法》

Extrinsic semiconductor single crystals measurement of Hall mobility and Hall coefficient

国家标准《非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）、全国有色金属标准化技术委员会联合归口，TC203SC2（全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会）执行，主管部门为国家标准委。

主要起草单位北京有色金属研究总院。

主要起草人王彤涵。

基础信息

标准号：GB/T 4326-2006发布日期：2006-07-18实施日期：2006-11-01全部代替标准：GB/T 4326-1984标准类别：方法中国标准分类号：H17国际标准分类号：77.040.01 归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会、全国有色金属标准化技术委员会副归口单位：全国有色金属标准化技术委员会执行单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会主管部门：国家标准委

起草单位

北京有色金属研究总院

起草人

王彤涵

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