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国家标准

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GB/T 20726-2006《半导体探测器X射线能谱仪通则》

Instrumental specification for energy dispersive X-ray spectrometers with semiconductor detectors

国家标准《半导体探测器X射线能谱仪通则》由TC38(全国微束分析标准化技术委员会)归口,主管部门为国家标准委。

主要起草单位中国科学院地质与地球物理研究所。

主要起草人曾荣树 、徐文东 、马玉光 、范逛等 。

基础信息

标准号:GB/T 20726-2006发布日期:2006-12-25实施日期:2007-08-01废止日期:2016-09-01标准类别:方法中国标准分类号:N53国际标准分类号:71.040.99 归口单位:全国微束分析标准化技术委员会执行单位:全国微束分析标准化技术委员会主管部门:国家标准委

采标情况

本标准等同采用ISO国际标准:ISO 15632:2002。采标中文名称:半导体探测器X射线能谱仪通则。

起草单位

中国科学院地质与地球物理研究所

起草人

曾荣树徐文东马玉光范逛

相近标准(计划)

GB/T 21006-2007 表面化学分析X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪强度标的线性SJ/T 10714-1996 检查X射线光电子能谱仪工作特性的标准方法20233692-T-464 医用电气设备X射线诊断影像中使用的电离室和(或)半导体探测器剂量计GB/T 11685-2003 半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法GB/T 25184-2010 X射线光电子能谱仪检定方法GB/T 22571-2017 表面化学分析 X射线光电子能谱仪 能量标尺的校准GB/T 19629-2005 医用电气设备X射线诊断影像中使用的电离室和(或)半导体探测器剂量计20242560-T-306 能量色散X射线荧光光谱分析方法通则JY/T 0587-2020 多晶体X射线衍射方法通则20241618-T-469 微束分析 扫描电镜(SEM)或电子探针(EPMA)用X射线能谱仪(EDS)主要性能参数及核查方法

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微析院所经过严格的审核程序,获得了CMA资质认证成为正规的检测机构,不出具CMA检测报告的机构请斟酌。

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严格按照法律法规和行业标准行事,不受任何外部干扰,真实反映实际情况,出具的检测报告具有权威性和公信力。

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服务领域广泛

服务领域广泛,涉及众多行业。食品、环境、医药、化工,还是建筑、电子、机械等领域,都能提供专业检测服务。

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