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Method of thickness measurement for thin crystal by convergent beam electron diffraction
国家标准《薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法》由TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准委。
主要起草单位北京科技大学。
主要起草人柳得橹 。
标准号：GB/T 20724-2006发布日期：2006-12-25实施日期：2007-08-01废止日期：2022-07-01标准类别：方法中国标准分类号：N53国际标准分类号：71.040.99 归口单位：全国微束分析标准化技术委员会执行单位：全国微束分析标准化技术委员会主管部门：国家标准委
北京科技大学
柳得橹
GB/T 20724-2021 微束分析 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法GB/T 43088-2023 微束分析 分析电子显微术 金属薄晶体试样中位错密度的测定方法20232638-T-469 微束分析 金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法20250725-T-469 微束分析 分析电子显微术 核壳颗粒壳壁厚度的测量方法GB/T 43748-2024 微束分析透射电子显微术 集成电路芯片中功能薄膜层厚度的测定方法GB/T 43610-2023 微束分析 分析电子显微术 线状晶体表观生长方向的透射电子显微术测定方法20243006-T-609 复合玻璃弯曲等效厚度测定方法GB/T 18907-2013 微束分析分析电子显微术透射电镜选区电子衍射分析方法WS/T 117-1999 X、γ、β射线和电子束所致晶体剂量估算规范GB/T 5753-2013 钢丝绳芯输送带总厚度和覆盖层厚度的测定方法
CMA检测资质
数据严谨精准
独立公正立场
服务领域广泛
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CMA
CMA检测资质
微析院所经过严格的审核程序，获得了CMA资质认证成为正规的检测机构，不出具CMA检测报告的机构请斟酌。
数据
数据严谨精准
提供精准的数据支持，建立了完善的数据管理系统，对每个检测项目数据进行详细记录与归档，以便随时查阅追溯。
立场
独立公正立场
严格按照法律法规和行业标准行事，不受任何外部干扰，真实反映实际情况，出具的检测报告具有权威性和公信力。
服务
服务领域广泛
服务领域广泛，涉及众多行业。食品、环境、医药、化工，还是建筑、电子、机械等领域，都能提供专业检测服务。
CMA检测资质
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