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Standard method for measuring the surface quality of polished silicon slices by visual inspection
国家标准《硅抛光片表面质量目测检验方法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准委。
主要起草单位上海合晶硅材料有限公司。
主要起草人徐新华 、王珍 。
标准号：GB/T 6624-2009发布日期：2009-10-30实施日期：2010-06-01全部代替标准：GB/T 6624-1995标准类别：方法中国标准分类号：H80国际标准分类号：29.045 归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会执行单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会主管部门：国家标准委
上海合晶硅材料有限公司
徐新华王珍
GB/T 4058-2009 硅抛光片氧化诱生缺陷的检验方法SJ/T 11504-2015 碳化硅单晶抛光片表面质量的测试方法YS/T 25-1992 硅抛光片表面清洗方法20240138-T-469 氮化铝单晶抛光片GB/T 43313-2023 碳化硅抛光片表面质量和微管密度的测试共焦点微分干涉法GB/T 19921-2018 硅抛光片表面颗粒测试方法SJ/T 10705-1996 半导体器件键合丝表面质量检验方法20243062-T-469 金刚石单晶抛光片20240142-T-469 蓝宝石单晶衬底抛光片20232266-T-605 热轧棒材和盘条表面质量等级
CMA检测资质
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CMA检测资质
微析院所经过严格的审核程序，获得了CMA资质认证成为正规的检测机构，不出具CMA检测报告的机构请斟酌。
数据
数据严谨精准
提供精准的数据支持，建立了完善的数据管理系统，对每个检测项目数据进行详细记录与归档，以便随时查阅追溯。
立场
独立公正立场
严格按照法律法规和行业标准行事，不受任何外部干扰，真实反映实际情况，出具的检测报告具有权威性和公信力。
服务
服务领域广泛
服务领域广泛，涉及众多行业。食品、环境、医药、化工，还是建筑、电子、机械等领域，都能提供专业检测服务。
CMA检测资质
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独立公正立场
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服务领域广泛
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