欢迎访问：第三方检测机构 官方网站！
关联站点：
156-0036-6678
欢迎访问：第三方检测机构 官方网站！
156-0036-6678
Standard test method for dimensions of notches on silicon wafers
国家标准《硅片切口尺寸测试方法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准委。
主要起草单位有研半导体材料股份有限公司、万向硅峰电子股份有限公司。
主要起草人杜娟 、孙燕 、卢延廷 、楼春兰 。
标准号：GB/T 26067-2010发布日期：2011-01-10实施日期：2011-10-01标准类别：方法中国标准分类号：H80国际标准分类号：29.045 归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会执行单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会主管部门：国家标准委
有研半导体材料股份有限公司万向硅峰电子股份有限公司
杜娟孙燕卢延廷楼春兰
SJ/T 11630-2016 太阳能电池用硅片几何尺寸测试方法SJ/T 11628-2016 太阳能电池用硅片尺寸及电学表征在线测试方法SJ/T 11631-2016 太阳能电池用硅片外观缺陷测试方法SJ/T 11632-2016 太阳能电池用硅片微裂纹缺陷的测试方法SJ/T 11627-2016 太阳能电池用硅片电阻率在线测试方法GB/T 6619-2009 硅片弯曲度测试方法GB/T 6621-2009 硅片表面平整度测试方法GB/T 42789-2023 硅片表面光泽度的测试方法GB/T 6618-2009 硅片厚度和总厚度变化测试方法GB/T 6620-2009 硅片翘曲度非接触式测试方法
CMA检测资质
数据严谨精准
独立公正立场
服务领域广泛
微析研究院客户服务流程
01
02
03
04
欢迎来公司实验室考察
或与工程师电话沟通业务需求
微析院所工程师上门取样
或自寄送样品到微析指定院所
样品分析/检测
技术工程师开始制作分析汇总报告
寄送报告，工程师主动售后回访
解决您的售后疑惑
客户案例
服务优势
CMA
CMA检测资质
微析院所经过严格的审核程序，获得了CMA资质认证成为正规的检测机构，不出具CMA检测报告的机构请斟酌。
数据
数据严谨精准
提供精准的数据支持，建立了完善的数据管理系统，对每个检测项目数据进行详细记录与归档，以便随时查阅追溯。
立场
独立公正立场
严格按照法律法规和行业标准行事，不受任何外部干扰，真实反映实际情况，出具的检测报告具有权威性和公信力。
服务
服务领域广泛
服务领域广泛，涉及众多行业。食品、环境、医药、化工，还是建筑、电子、机械等领域，都能提供专业检测服务。
CMA检测资质
微析院所经过严格的审核程序，获得了CMA资质认证成为正规的检测机构，不出具CMA检测报告的机构请斟酌。
数据严谨精准
提供精准的数据支持，建立了完善的数据管理系统，对每个检测项目数据进行详细记录与归档，以便随时查阅追溯。
独立公正立场
严格按照法律法规和行业标准行事，不受任何外部干扰，真实反映实际情况，出具的检测报告具有权威性和公信力。
服务领域广泛
服务领域广泛，涉及众多行业。食品、环境、医药、化工，还是建筑、电子、机械等领域，都能提供专业检测服务。
资讯动态
业界资讯
常见问题
2025-06-16
2025-06-25
2025-06-17
2025-06-26
2025-06-18
2025-06-26
2025-06-21
2025-06-21
2025-06-15
2025-06-18
2025-06-12
2025-06-16
2025-06-20
2025-06-23
2025-06-13
2024-12-26
2024-11-19
2024-07-19
2025-06-20
2025-06-24
2025-06-16
2025-06-28
2025-06-14
LED照明灯具可靠性测试中如何检测电磁辐射是否符合安全标准？
2025-06-13
2025-06-26
2025-06-18
PICC导管临床前性能验证需要检测哪些关键项目以确保安全性？
2024-08-13
2024-12-03
2025-06-20
2025-05-06
2025-06-15
2025-06-21
2025-06-22
2024-08-01
2025-06-14
2025-01-16
2025-06-19
2025-06-26
2025-06-19
2025-06-23
2025-06-14
2025-06-16
+
出具报告
+
专业人员
+
实验仪器
+
多地实验室
院所团队
院所环境
仪器设备
