GB/T 27760-2011《利用Si（111）晶面原子台阶对原子力显微镜亚纳米高度测量进行校准的方法》

Test method for calibrating the z-magnification of an atomic force microscope at subnanometer displacement levels using si (111) monatomic steps

国家标准《利用Si（111）晶面原子台阶对原子力显微镜亚纳米高度测量进行校准的方法》由TC279（全国纳米技术标准化技术委员会）归口，主管部门为中国科学院。

主要起草单位国家纳米科学中心。

主要起草人朱晓阳、杨延莲、贺蒙、高洁。

基础信息

标准号：GB/T 27760-2011发布日期：2011-12-30实施日期：2012-05-01标准类别：方法中国标准分类号：N04国际标准分类号：19.020 归口单位：全国纳米技术标准化技术委员会执行单位：全国纳米技术标准化技术委员会主管部门：中国科学院

采标情况

本标准修改采用其他国际标准：ASTM E 2530-2006。采标中文名称:利用Si（111）晶面原子台阶对原子力显微镜亚纳米高度测量进行校准的方法。

起草单位

国家纳米科学中心

起草人

朱晓阳杨延莲贺蒙高洁

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