GB/T 4937.3-2012《半导体器件机械和气候试验方法第3部分：外部目检》

Semiconductor devices - Mechanical and climatic tests methods - Part 3: External visual examination

国家标准《半导体器件机械和气候试验方法第3部分：外部目检》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位中国电子科技集团公司第十三研究所。

主要起草人陈海蓉、李丽霞、崔波。

基础信息

标准号：GB/T 4937.3-2012发布日期：2012-11-05实施日期：2013-02-15标准类别：方法中国标准分类号：L40国际标准分类号：31.080.01 归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会执行单位：全国半导体器件标准化技术委员会主管部门：工业和信息化部（电子）

采标情况

本标准等同采用IEC国际标准：IEC 60749-3:2002。采标中文名称:半导体器件机械和气候试验方法第3部分:外部目检。

起草单位

中国电子科技集团公司第十三研究所

起草人

陈海蓉李丽霞崔波

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