GB/T 30118-2013《声表面波（SAW）器件用单晶晶片规范与测量方法》

Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications―Specifications and measuring methods

国家标准《声表面波（SAW）器件用单晶晶片规范与测量方法》由TC182（全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位中国电子科技集团公司第二十六研究所、中国电子科技集团德清华莹电子有限公司、北京石晶光电科技有限公司。

主要起草人张小梅、蒋春键、吴兆刚、吴剑波、赵雄章、周洋舟。

基础信息

标准号：GB/T 30118-2013发布日期：2013-12-17实施日期：2014-05-15标准类别：方法中国标准分类号：L21国际标准分类号：31.140 归口单位：全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会执行单位：全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会主管部门：工业和信息化部（电子）

采标情况

本标准修改采用IEC国际标准：IEC 62276:2005。采标中文名称:声表面波（SAW）器件用单晶晶片规范与测量方法。

起草单位

中国电子科技集团公司第二十六研究所北京石晶光电科技有限公司中国电子科技集团德清华莹电子有限公司

起草人

张小梅蒋春键赵雄章周洋舟吴兆刚吴剑波

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