GB/T 14849.5-2014《工业硅化学分析方法第5部分：杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法》

Methods for chemical analysis of silicon metal―Part 5：Determination of impurity contents―X-ray fluorescence method

国家标准《工业硅化学分析方法第5部分：杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法》由TC243（全国有色金属标准化技术委员会）归口，TC243SC1（全国有色金属标准化技术委员会轻金属分会）执行，主管部门为中国有色金属工业协会。

主要起草单位昆明冶金研究院、中国铝业股份有限公司山东分公司、云南永昌硅业股份有限公司、中国铝业股份有限公司郑州研究院、通标标准技术服务有限公司、包头铝业有限公司、蓝星硅材料有限公司、昆明冶研新材料股份有限公司、云南出入境检验检疫局。

主要起草人刘英波、赵德平、杨海岸、周杰、杨毅等。

基础信息

标准号：GB/T 14849.5-2014发布日期：2014-12-05实施日期：2015-05-01全部代替标准：GB/T 14849.5-2010标准类别：方法中国标准分类号：H12国际标准分类号：77.120.10 归口单位：全国有色金属标准化技术委员会执行单位：全国有色金属标准化技术委员会轻金属分会主管部门：中国有色金属工业协会

起草单位

昆明冶金研究院云南永昌硅业股份有限公司通标标准技术服务有限公司蓝星硅材料有限公司云南出入境检验检疫局中国铝业股份有限公司山东分公司中国铝业股份有限公司郑州研究院包头铝业有限公司昆明冶研新材料股份有限公司

起草人

刘英波赵德平杨毅杨海岸周杰

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