GB/T 33236-2016《多晶硅痕量元素化学分析辉光放电质谱法》

Polycrystalline silicon—Determination of trace elements—Glow discharge mass spectrometry method

国家标准《多晶硅痕量元素化学分析辉光放电质谱法》由TC608（全国表面化学分析标准化技术委员会）归口，主管部门为中国科学院。

主要起草单位中国科学院上海硅酸盐研究所。

主要起草人卓尚军、钱荣、董疆丽、申如香、盛成、高捷、郑文平。

基础信息

标准号：GB/T 33236-2016发布日期：2016-12-13实施日期：2017-11-01标准类别：方法中国标准分类号：G04国际标准分类号：71.040.40 归口单位：全国表面化学分析标准化技术委员会执行单位：全国表面化学分析标准化技术委员会主管部门：中国科学院

起草单位

中国科学院上海硅酸盐研究所

起草人

卓尚军钱荣盛成高捷董疆丽申如香郑文平

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