欢迎访问：第三方检测机构 官方网站！
关联站点：
156-0036-6678
欢迎访问：第三方检测机构 官方网站！
156-0036-6678
Test method for dislocation density of sapphire single crystal
国家标准《蓝宝石单晶位错密度测量方法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准委。
主要起草单位江苏协鑫软控设备科技发展有限公司、中国科学院上海光学精密机械研究所、深圳市中安测标准技术有限公司。
主要起草人薛抗美 、黄修康 、杭寅 、尹继刚 、田野 、张永波 、张毅 。
标准号：GB/T 33763-2017发布日期：2017-05-31实施日期：2017-12-01标准类别：方法中国标准分类号：H25国际标准分类号：77.040 归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会执行单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会主管部门：国家标准委
江苏协鑫软控设备科技发展有限公司深圳市中安测标准技术有限公司中国科学院上海光学精密机械研究所
薛抗美黄修康田野张永波杭寅尹继刚张毅
GB/T 34481-2017 低位错密度锗单晶片腐蚀坑密度（EPD）的测量方法20240136-T-469 金刚石单晶抛光片位错密度的测试方法SJ/T 11490-2015 低位错密度砷化镓抛光片蚀坑密度的测量方法SJ/T 11489-2015 低位错密度磷化铟抛光片蚀坑密度的测量方法GB/T 5252-2020 锗单晶位错密度的测试方法GB/T 8760-2020 砷化镓单晶位错密度的测试方法GB/T 41765-2022 碳化硅单晶位错密度的测试方法20240142-T-469 蓝宝石单晶衬底抛光片SJ/T 10557.3-1994 电解电容器用铝箔平均位错密度测量方法GB/T 32282-2015 氮化镓单晶位错密度的测量阴极荧光显微镜法
CMA检测资质
数据严谨精准
独立公正立场
服务领域广泛
微析研究院客户服务流程
01
02
03
04
欢迎来公司实验室考察
或与工程师电话沟通业务需求
微析院所工程师上门取样
或自寄送样品到微析指定院所
样品分析/检测
技术工程师开始制作分析汇总报告
寄送报告，工程师主动售后回访
解决您的售后疑惑
服务优势
CMA
CMA检测资质
微析院所经过严格的审核程序，获得了CMA资质认证成为正规的检测机构，不出具CMA检测报告的机构请斟酌。
数据
数据严谨精准
提供精准的数据支持，建立了完善的数据管理系统，对每个检测项目数据进行详细记录与归档，以便随时查阅追溯。
立场
独立公正立场
严格按照法律法规和行业标准行事，不受任何外部干扰，真实反映实际情况，出具的检测报告具有权威性和公信力。
服务
服务领域广泛
服务领域广泛，涉及众多行业。食品、环境、医药、化工，还是建筑、电子、机械等领域，都能提供专业检测服务。
CMA检测资质
微析院所经过严格的审核程序，获得了CMA资质认证成为正规的检测机构，不出具CMA检测报告的机构请斟酌。
数据严谨精准
提供精准的数据支持，建立了完善的数据管理系统，对每个检测项目数据进行详细记录与归档，以便随时查阅追溯。
独立公正立场
严格按照法律法规和行业标准行事，不受任何外部干扰，真实反映实际情况，出具的检测报告具有权威性和公信力。
服务领域广泛
服务领域广泛，涉及众多行业。食品、环境、医药、化工，还是建筑、电子、机械等领域，都能提供专业检测服务。
资讯动态
业界资讯
常见问题
2025-06-17
2025-06-15
2025-06-13
2025-06-19
2025-06-19
2025-06-18
2025-06-20
2025-04-07
2025-06-13
2025-06-24
2025-06-22
2024-12-31
2025-06-28
2025-06-22
2025-06-14
2025-06-20
2025-06-15
2025-06-24
2025-06-19
2025-06-22
2025-06-16
2025-06-21
2025-06-24
2025-06-27
2025-06-19
2025-06-23
2025-06-17
2025-06-15
2025-06-24
2025-06-23
2025-06-27
2025-06-13
2025-01-31
2025-06-18
2025-06-26
2025-06-14
2025-06-19
2025-06-17
2025-06-14
2025-06-17
2025-06-21
2025-06-16
+
出具报告
+
专业人员
+
实验仪器
+
多地实验室
院所团队
院所环境
仪器设备
