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Electronic characteristic measurements—Surface resistance of superconductors at microwave frequencies
国家标准《电子学特性测量 超导体在微波频率下的表面电阻》由TC265(全国超导标准化技术委员会)归口,主管部门为中国科学院。
主要起草单位电子科技大学、清华大学、南京大学、中国科学院物理研究所。
主要起草人曾成 、罗正祥 、补世荣 、魏斌 、吉争鸣 、孙亮 。
标准号:GB/T 22586-2018发布日期:2018-03-15实施日期:2018-10-01全部代替标准:GB/T 22586-2008标准类别:方法中国标准分类号:H21国际标准分类号:77.040.99 归口单位:全国超导标准化技术委员会执行单位:全国超导标准化技术委员会主管部门:中国科学院
本标准修改采用IEC国际标准:IEC 61788-7:2006。采标中文名称:超导电性 第7部分:电子学特性测量超导体在微波频率下的表面电阻。
电子科技大学南京大学清华大学中国科学院物理研究所
曾成罗正祥吉争鸣孙亮补世荣魏斌
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