GB/T 4377-2018《半导体集成电路电压调整器测试方法》

Semiconductor integrated circuits—Measuring method of voltage regulators

国家标准《半导体集成电路电压调整器测试方法》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位圣邦微电子（北京）股份有限公司、中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所、成都振芯科技股份有限公司、北京宇翔电子有限公司。

主要起草人王鸿儒、袁莹莹、邹臣、朱华、张宝华、张冰、陈志培、罗彬。

基础信息

标准号：GB/T 4377-2018发布日期：2018-03-15实施日期：2018-08-01全部代替标准：GB/T 4377-1996标准类别：方法中国标准分类号：L56国际标准分类号：31.200 归口单位：全国集成电路标准化技术委员会执行单位：全国集成电路标准化技术委员会主管部门：工业和信息化部（电子）

起草单位

圣邦微电子（北京）股份有限公司成都振芯科技股份有限公司中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所北京宇翔电子有限公司

起草人

王鸿儒袁莹莹张宝华张冰邹臣朱华陈志培罗彬

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