GB/T 4937.17-2018《半导体器件机械和气候试验方法第17部分：中子辐照》

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 17: Neutron irradiation

国家标准《半导体器件机械和气候试验方法第17部分：中子辐照》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位中国电子科技集团公司第十三研究所、西北核技术研究所、中国科学院新疆理化技术研究所。

主要起草人席善斌、彭浩、陈伟、林东生、杨善潮、金晓明、郭旗、陆妩、崔波、陈海蓉。

基础信息

标准号：GB/T 4937.17-2018发布日期：2018-09-17实施日期：2019-01-01标准类别：方法中国标准分类号：L40国际标准分类号：31.080.01 归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会执行单位：全国半导体器件标准化技术委员会主管部门：工业和信息化部（电子）

采标情况

本标准等同采用IEC国际标准：IEC 60749-17:2003。采标中文名称:半导体器件机械和气候试验方法第17部分:中子辐照。

起草单位

中国电子科技集团公司第十三研究所中国科学院新疆理化技术研究所西北核技术研究所

起草人

席善斌彭浩杨善潮金晓明崔波陈海蓉陈伟林东生郭旗陆妩

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