GB/T 4937.32-2023《半导体器件机械和气候试验方法第32部分：塑封器件的易燃性（外部引起的）》

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 32:Flammability of platic-encapsulated devices（externally induced）

国家标准《半导体器件机械和气候试验方法第32部分：塑封器件的易燃性（外部引起的）》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位中国电子科技集团公司第十三研究所、河北北芯半导体科技有限公司、合肥联诺科技股份有限公司、河北中电科航检测技术服务有限公司、广东省中绍宣标准化技术研究院有限公司、佛山市川东磁电股份有限公司。

主要起草人裴选、张魁、黄纪业、席善斌、彭浩、魏兵、林瑜攀、颜天宝。

基础信息

标准号：GB/T 4937.32-2023发布日期：2023-05-23实施日期：2023-12-01标准类别：方法中国标准分类号：L40国际标准分类号：31.080.01 归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会执行单位：全国半导体器件标准化技术委员会主管部门：工业和信息化部（电子）

采标情况

本标准等同采用IEC国际标准：IEC 60749-32:2010。采标中文名称:半导体器件机械和气候试验方法第32部分：塑封器件的易燃性（外部引起的）。

起草单位

中国电子科技集团公司第十三研究所合肥联诺科技股份有限公司广东省中绍宣标准化技术研究院有限公司河北北芯半导体科技有限公司河北中电科航检测技术服务有限公司佛山市川东磁电股份有限公司

起草人

裴选张魁彭浩魏兵黄纪业席善斌林瑜攀颜天宝

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